Statistical Analysis of Measurement Processes Using Multi-Physic Instruments: Insights from Stitched Maps

Clement Moreau; Julie Lemesle; David Páez Margarit; François Blateyron; Maxence Bigerelle

doi:10.3390/metrology4020010

Article Dans Une Revue Metrology Année : 2024

Statistical Analysis of Measurement Processes Using Multi-Physic Instruments: Insights from Stitched Maps

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Clement Moreau

Fonction : Auteur
PersonId : 1374767

Laboratoire d'Automatique, de Mécanique et d'Informatique industrielles et Humaines - UMR 8201

Julie Lemesle

Fonction : Auteur
PersonId : 1069144
ORCID : 0000-0001-6119-8725
IdRef : 258823836

Laboratoire d'Automatique, de Mécanique et d'Informatique industrielles et Humaines - UMR 8201

David Páez Margarit

Fonction : Auteur

François Blateyron

Fonction : Auteur
PersonId : 1374768
ORCID : 0000-0001-7048-4045

Maxence Bigerelle

Fonction : Auteur
PersonId : 753813
IdHAL : maxence-bigerelle
ORCID : 0000-0002-4144-245X
IdRef : 078236126

Laboratoire d'Automatique, de Mécanique et d'Informatique industrielles et Humaines - UMR 8201

INSA Institut National des Sciences Appliquées Hauts-de-France

Mots clés

instrument comparison stitching measurement assessment confocal microscopy focus variation microscopy interferometry instrument comparison stitching measurement assessment confocal microscopy focus variation microscopy interferometry

Domaines

Physique [physics]

Fichier principal

metrology-04-00010-v2-1.pdf (7.86 Mo)

Origine	Fichiers éditeurs autorisés sur une archive ouverte

Maxence Bigerelle : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://uphf.hal.science/hal-04544819

Soumis le : samedi 13 avril 2024-10:15:18

Dernière modification le : vendredi 26 avril 2024-03:29:20

Dates et versions

hal-04544819 , version 1 (13-04-2024)

Identifiants

HAL Id : hal-04544819 , version 1
DOI : 10.3390/metrology4020010

Citer

Clement Moreau, Julie Lemesle, David Páez Margarit, François Blateyron, Maxence Bigerelle. Statistical Analysis of Measurement Processes Using Multi-Physic Instruments: Insights from Stitched Maps. Metrology, 2024, 4, pp.141 - 163. ⟨10.3390/metrology4020010⟩. ⟨hal-04544819⟩

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